詞條
詞條說明
GB/T2423.1是針對電工電子產(chǎn)品的標準低溫試驗標準,等同于**標準IEC60068-2-1。GB/T2423.1低溫試驗的步驟如下:1.初步檢測。通過目視檢查和(或)按相關(guān)規(guī)范要求進行功能檢測來獲知試驗樣品的初始狀態(tài)。2.條件試驗。試驗樣品應(yīng)按相關(guān)規(guī)范的詳細規(guī)定在低溫條件下暴露至規(guī)定的持續(xù)時間。如果有試驗樣品不能達到溫度穩(wěn)定的意外情況,整個試驗持續(xù)的時間應(yīng)該從試驗樣品通電時開始計算。通常這種
溫度變化類試驗項目名稱:溫度變化、溫度循環(huán)、溫度交變、快速溫變、溫度沖擊、冷熱沖擊等。且不同體系的標準中應(yīng)用的試驗方法是不同的,如何區(qū)分這些測試項目以及如何選擇它們,需要分析各種類型測試的來源及其差異。????在特定時間內(nèi)進行快速溫度變化,轉(zhuǎn)換時間一般設(shè)定為手動2~3 分鐘,?屬于冷熱沖擊試驗。 高低溫測試主要有兩種方法:氣體法和液體法。氣法分為兩
一、HAST高加速溫濕度應(yīng)力測試(HAST)是一種以溫濕度為環(huán)境參數(shù)的高加速電子元器件可靠性測試方法。 HAST 也稱為壓力鍋測試 (PCT) 或不飽和壓力鍋測試 (USPCT)。其目的是通過將測試室中的水蒸氣壓力增加到**測試樣品內(nèi)部水蒸氣分壓的較高水平來評估測試樣品的耐濕性。這個過程在時間上加速了水分滲入樣品中。二、HAST測試標準HAST 是加速耐濕性測試的加速版本。與高溫/高濕測試(85°
有試驗結(jié)果表明,在連續(xù)冷卻試驗中,光纖在-55℃以下,光纖的損耗增加,尤其是在-60℃以下,損耗較是顯著增加,不能滿足實際應(yīng)用的需要。在連續(xù)升溫測試中(-70~-55℃),光纖損耗均有所下降,這表明由于溫度下降而導(dǎo)致的光纖損耗是可逆的,隨著溫度的回升,損耗也會隨之下降。?1、光纖的溫度特性是指在高、低溫條件下對光纖損耗的影響。在低溫條件下光纖損耗增大,這是由于光纖涂覆層、套塑層和石英的膨
公司名: 廣東宏展科技有限公司
聯(lián)系人: 曾小姐
電 話: 18688888287
手 機: 18688888287
微 信: 18688888287
地 址: 廣東東莞常平Lab Companion Park
郵 編:
網(wǎng) 址: hongzhan.cn.b2b168.com
公司名: 廣東宏展科技有限公司
聯(lián)系人: 曾小姐
手 機: 18688888287
電 話: 18688888287
地 址: 廣東東莞常平Lab Companion Park
郵 編:
網(wǎng) 址: hongzhan.cn.b2b168.com