變形鏡結合并應用在顯微鏡

時間：2022-07-08

作者：深圳維爾克斯光電有限公司

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詞條說明
掃描狹縫式光束分析儀與相機式光斑分析儀的區別
? ? ?對于光束分析儀的早期設備，掃描狹縫式光束分析儀或刀口式光束分析儀是唯一可用的光束分析儀器設備選項。掃描狹縫式光束分析儀用于分析近高斯光束的橢圓(或圓形)自由空間光束，根據光束直徑采用掃描狹縫或刀口技術。然而，隨著CCD和CMOS傳感器的出現，相機式光斑分析儀雖然逐步地應用于激光光束分析儀，但掃描狹縫檢測器仍在少數激光光束特性分析應用中使用，而在這些應用中它們
線激光元件被用于晶圓檢測
在半導體行業中，極小的表面缺陷和顆粒是一個主要問題，這會降低產量并耗費生產的時間和成本。因此，檢測半導體晶圓表面的缺陷和污染至關重要，這是在半導體計量行業許多客戶面臨的挑戰。晶圓表面檢測的快速且具有成本效益的方法之一是使用激光線照明和暗場/明場顯微鏡來檢測缺陷，通常在深紫外（DUV）波長下檢測100nm以下的缺陷。在這種方法中，Holoor指出當線沿徑向掃描時，晶圓旋轉，產生晶圓的大面積采樣，從而
什么是主動隔振臺
隔振技術可分為被動隔振(又稱無源隔振)和主動隔振(又稱有源隔振)。被動隔振只能對某一特定的窄頻段振動起到衰減作用，而對于隔振對象狀態變化較大和振動干擾時變性較強的場合不太適合;同時，由于穩定性的限制，被動隔振也無法對低頻振動進行衰減。而主動隔振技術是在被控系統中引入次級振源，并通過一定的控制方法調節次級振源的輸出，使其產生的振動與主振源(干擾)的振動相抵消，從而達到隔振的目的。與被動隔振技術相比，
Serstech拉曼光譜物質庫和拉曼光譜儀的標準型號
Serstech手持式拉曼光譜儀的標準型號有：IND-1001-B，Arx001和Arx002和，對應的產品分別是Indicator 100，Arx，Arx+。Serstech Arx +Serstech Arx +是在Serstech Arx基礎上的專業版，專業用于醫藥行業。首先他簡化了進貨檢驗中檢測物質的工作流程，配有條形碼讀取器可以掃描條形碼或者QR碼，檢測結果綁定對應的條形碼，符合聯邦法規