鍍層厚度分析儀廠家技術推薦

時間：2024-10-16

作者：江蘇天瑞儀器股份有限公司

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詞條
詞條說明
電子元件X光檢測儀廠家技術介紹
電子元件X光檢測儀為國內 X 射線技術研究和 X 射線智能檢測裝備研發的日聯科技生產銷售,日聯科技是國內微聚焦X-RAY研發,x光安檢機,工業探傷機,x-ray檢測,車輛檢測設備,x射線機的生產,銷售為一體的高端檢測設備高新技術企業. 電子元件X光檢測儀是利用陰射線管產生高能量電子與金屬靶撞擊，在撞擊過程中，因電子突然減速，其損失的動能會以X-Ray形式放出。而對于樣品無法以外觀方式檢測的位置，
ICP-AES光譜儀分析方法介紹
ICP-AES法首先是一種發射光譜分析方法，可以多元素同時測定。發射光譜分析方法只要將待測原子處于激發狀態，便可同時發射出各自特征譜線同時進行測定。ICP-AES儀器，不論是多道直讀還是單道掃描儀器，均可以在同一試樣溶液中同時測定大量元素（30～50個，甚至多）。已有文獻報導的分析元素可達78個[4]，即除He、Ne、Ar、Kr、Xe惰性氣體外，自然界存在的所有元素，都已有用ICP-AES法測定的
ROHS無鹵檢測設備技術參數介紹
滿足歐盟RoHS指令，以及各國針對電子電機產品中有有害物質含量的快速檢測分析，例如Cd、Pb、Hg、Cr、Br等含量的快速分析。 2．RoHS/WEEE 針對目前IEC指令中之無鹵素鹵元素含量要求標準，利用HY1832JC 可建立快速、非破壞的檢測方法，滿足廠商簡易的需求。 3．電子產業 1、應用於無鹵素材料分析(Halogen Free) 2、應用於無鹵素材料分析(Halogen Free),
合金分析儀廠家技術介紹
合金分析儀的是一種XRF光譜分析技術，可用于確認物質里的特定元素，同時將其量化。它可以根據X射線的發射波長（λ）及能量（E）確定具體元素，而通過測量相應射線的密度來確定此元素的量。如此一來，XRF度普術就能測定物質的元素構成。每一個原子都有自己固定數量的電子（負電微粒）運行在核子周圍的軌道上。而且其電子的數量等同于核子中的質子（正電微粒）數量。從元素周期表中的原子數我們則可以得知質子的數目。